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多晶硅的质量检验及若干问题的探讨

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    [LV.1]初来乍到

    甘棠 发表于 2012-11-19 07:05:00 | 显示全部楼层 |阅读模式
    发一个多晶硅质量检验相关的文章,是昆德科技总工做的一片报道,详述多晶硅的结构与晶界效应、电阻率及补偿度的测量、单晶硅的少子寿命测量、样品制备与热处理四方面内容。
        国内大部分做多晶硅成品检测的仪器都来自昆德公司,比如电阻率仪、少子寿命仪等。做分析检测的同仁可以下载看看。
        回复可见下载链接游客,如果您要查看本帖隐藏内容请回复
    匿名  发表于 2012-11-19 15:39:00
    very good, thank you
    匿名  发表于 2012-11-20 08:39:00
    半导体从业者都应了解
    匿名  发表于 2013-1-6 16:19:00
    谢谢楼主分享
    匿名  发表于 2013-1-9 10:59:00
    看看,行业出路到底在哪。

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