硅材料少子寿命检测技术和仪器

硅材料的少子寿命，是判定等级的重要参数。但是可能很多人并不了解什么是少子寿命，以下先做解释：
    处于热平衡状态下的半导体，在一定温度下，载流子的浓度是一定的，称为平衡载流子浓度, 如果对半导体施加外界作用,破坏了热平衡的条件，称为非平衡状态。比平衡状态多出来的这部分载流子称为非平衡载流子。非平衡载流子分为非平衡多数载流子和非平衡少数载流子, 对于n型半导体材料，多出来的电子就是非平衡多数载流子,空穴则是非平衡少数载流子。对p型半导体材料则相反, 产生非平衡载流子的外界作用撤除以后，它们要逐渐衰减以致消失，最后载流子浓度恢复到平衡时的值, 非平衡少数载流子的平均生存时间称为非平衡少数载流子的寿命,简称少子寿命。
   而少子寿命的测试方法包括非平衡载流子的的注入和检测两个基本方面。最常用的是光注入和电注入。。。。。。
  
   为了方便更加详细的了解，发一个少子寿命专门的检测资料。喜欢的可以下载
   回复可以看到解压码哦：游客，如果您要查看本帖隐藏内容请回复